概况
院长致辞
研究院简介
组织架构
联系我们
下设机构
总体介绍
纳米复合结构材料团队
生物医用纳米复合材料团队
有机/无机杂化材料团队
储能材料与器件团队
功能纳米纤维团队
功能纳米界面团队
纳米分析与测试中心
研究梯队
院士
核心成员
博士后
工作人员
研究团队
平台设备
通用设备
纳米表征和测试设备
纳米合成和制造设备
科研动态
研究亮点
成就
新闻事件
通知公告
学术会议&新闻
English
平台设备
通用设备
纳米表征和测试设备
纳米合成和制造设备
纳米表征和测试设备
当前位置：
首页
>>
平台设备
>>
纳米表征和测试设备
>> 正文
高分辨X射线断层扫描显微镜（SkyScan 1275）
发布日期:2021-08-25
作者：
点击：
上一篇：
体式显微镜（M125C）
下一篇：
微纳米机械性能测试系统（NST3+ NHT3）
